X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析(微晶尺寸、微應變、無序…)熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力織構(擇優取向)分析指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。候選材料鑒別(PMI) 為常見,這是因為對其原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現。湖北進口XRD衍射儀推薦咨詢
波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學性能,比如凝結性能和強度變化等,不光是由化學組成所決定的,而主要是由其礦物組成所決定的。傳統的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法。這些方法的缺點是眾所周知的。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結合。可以確定孰料中的C3S、C2S、C3A、C4AF等主要礦相的含量,還可以得到C3S、C2S、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量。蘇州熟料礦相檢測分析根據應用需求,調節探測器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續變化、支持自動對光。
嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉、美容粉、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,能增強這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能。所以,在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會引起石棉肺惡性疾病,我國已明確把石棉列為化妝品禁用物質,用于化妝品生產的滑石粉必須經過檢測不含石棉成分方可使用。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結合的辦法。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個難點,主要采用X射線衍射法。石棉定量采用基底修正法,具體操作步驟請參考:?SN/T2549.2-2010:進出口化妝品中石棉的測定:第2部分:X射線衍射-偏光顯微鏡法?ISO22262-3_2016:QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethod?GB/T23263-2009:制品中石棉含量測定法
由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。使用D8D,您將能在原位循環條件下測試電池材料,直截了當地獲取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息。
介孔分子篩SBA-15結構分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結構,具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩定性,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應中應用,因此在催化、分離、生物及納米材料等領域有應用前景。SBA-15結構特穩定性和其孔徑大小與性能有較大關聯,而XRD是表征其結構的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,其衍射峰往往出現在非常低的角度,這導致很難從直射光和空氣散射中區分其衍射信號。目前,隨著衍射儀的發展,動態光路對的設計很好的解決了這類問題。實例SBA-15小角度XRD圖譜,五個衍射峰分別對應(100)、(110)、(200)、(300)、(220)。根據圖2示意圖,計算得到平均孔距EIGER2 R 250K和500K是將Synchrotron性能帶入實驗室X射線衍射的2D檢測器。江西BRUKERXRD衍射儀推薦咨詢
總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(PDF)、小角X射線散射(SAXS)。湖北進口XRD衍射儀推薦咨詢
對分布函數分析對分布函數(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數據質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案:相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀。湖北進口XRD衍射儀推薦咨詢
殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區域結構特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微觀結構分析。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,這是因為其對原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,進行半定量分析,以現實孔板上不同相的濃度。非環境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結果。小角X射線散射(SAXS)...