分布光度計測試光學解析二：中心光強：燈具發光中心即垂直軸0°水平軸0°的光強。峰值光強：燈具比較大光強。峰值光強位置：用橫縱坐標表示出比較大光強的位置。有效光束角：在包含比較大光強的某個平面上，兩個為10%比較大光強的光強之間的夾角稱為該平面的有效光束角又稱光束擴散角（H:C0-180:V:C90-270）。半峰邊角：在選定的通過比較大光強的平面上，兩個為50%比較大光強的光強之間的夾角。圓錐面光強分布曲線就是固定Gamma軸，C角度自旋一周形成的配光。分布光度計的測量數據可用于照明系統的光強分布分析。衢州CIE文件格式分布光度計設計

發光角度，又稱功率角度，通常我們使用半峰邊角度和有效光束角，半峰邊角度即50%發光強度的角度記作發光角度。有效光束度即10%發光強度的角度記作發光角度。對于LED燈珠，透鏡的大小、散射劑的多少和支架的傾斜角度等等都影響著燈珠的發光角度。燈珠的發光角度影響著LED應用端的燈具配光設計。為此，翊明科技推出專業的“LED燈珠的發光角度及IES配光文件測試”系統，給客戶方便準確的測試服務，并可提供可用于光學模擬的IES配光文件，該文件可直接導入Dialux、Tracepro或Lighttools等光學軟件中使用。寧波暗室分布光度計檢測設備分布光度計是一種用于精確測量光源或燈具在空間各個方向上的光強分布、光通量、照度等光學參數的專業儀器。

翊明分布光度計對雜散光要求：雜散光是分布光度測量中影響測試精度昀重要的因素之一。在分布光度測量設備的選購、實驗室建造中必須引起足夠的重視。應該注意的是，任何黑色的表面也都存在百分之幾的光學反射。雜散光的影響對于測量窄光束燈具尤其明顯，例如，若投光燈的光束角為4°，即使環境的反射比只有1％，背景雜散光的影響將引起總光通量的誤差約達40%以上。因此，分布光度計中的光電探測器應只接收燈具發光面或*從反光鏡反射后的光束，其它雜散光，如反光鏡邊緣、地面、墻面等反射引起的雜光應予消除。

分布光度計儀器結構，技術參數，測試，操作步驟以及軟件可以滿足一下標準要求：CIEPub.NO.70,”TheMeasurementofAbsoluteLuminousIntensityDistributions”、CIEDIV.Ⅱ-TC10,”PhotometryofLuminaires”、IESLM-35-1989,”IESApprovedMethodforPhotometricTestingofFloodlights”、IESLM-31,”IESApprovedMethodforPhotometricTestingofRoadwayLuminaires”、IES-LM-79-19,“ElectricalandPhotometricMeasurementsofSolid-StateLightingProducts”、GB/T7002-2016,“投光照明燈具光度測試”、GB/T9467-1988,“室內燈具光度測試”、GB/T9468-1988,“道路照明燈具光度測試”、GB/T9468-2008“燈具分布光度測量的一般要求“、IES61341“MethodofMeasurementofCenterBeamIntensityandBeamAngle(s)ofReflectorLamp”、CIEPub.NO.76,“Photometry-theCIESystemofPhysicalPhotometry”；分布光度計可以測量不同角度的光強分布。

光度探測器是分布光度計的重要組成部分之一，探測器的光譜響應S(λ)精度應與人眼的明視覺光譜光視效率函數V(λ)一致，即S(λ)=V(λ)。根據國際照明委員會CIE規定，對于氣體放電燈的光強分布測量，探測器的V(λ)匹配誤差f1′應不超過2％。要使探測器的光譜響應匹配到與V(λ)曲線一致，通常采用一組不同材料的濾光片，加在硅光池前面。由于受玻璃材料的光譜透射比曲線的限制，要達到f1′小于2％的精度并非易事。目前在分布光度計中應用的硅光電探測器，靈敏度會隨溫度升高而降低，溫度變化1℃，大約會引起0.1％的靈敏度變化。此外光電流放大電路的倍率也會受溫度的影響。因此必須對光度探頭和電路恒溫，溫度應控制在1℃以內。分布光度計的測量結果可用于照明系統的光強分布分析。衢州CIE文件格式分布光度計設計

路燈分布光度計測試系統。衢州CIE文件格式分布光度計設計

翊明分布光度計暗室的標準要求：①溫度要求：根據CIE70和LM-79的要求，在使用分布式光度計進行測量時，通常是在25°的環境溫度下進行的。②雜散光要求：雜散光可以使光強分布測試結果失敗，所以推薦在光源和廣度探頭接收面之間使用擋屏來限制入射的雜散光，但擋屏不能在光束中引起阻隔。光強分布的測試應該在擋屏處在對應位置上時能夠復現。此時的測量信號就是直射雜散光的信號，應該將這個量從沒有這個擋屏的測試結果中減去。③暗室墻面涂刷要求：通常在給用戶設計暗室圖紙時，都會指明使用亞光黑的涂料，將房間內所有墻面涂刷好。需要注意的是，房間所有墻面中，**重要的墻面是正對光度探頭的墻面，通常也是分布式光度計主機背后的墻面。該處若存在雜散光，將會直接照射到探頭中。④暗室尺寸要求：根據LM-79和CIE-70的要求，測試光路長度至少要為被測燈具直徑**長尺寸的6倍以上，意味著如果被測燈具的比較大尺寸為1.2米，那么光路的長度至少需要為6米，加上主機和探頭預留的位置，整體暗室長度至少要在8米以上。符合規范的暗室環境能夠很大程度地保證測試精度。衢州CIE文件格式分布光度計設計