2.1可編程結構光柵(PSLM)技術
PMP技術中主要的一個基礎條件就是要求光柵的正弦化。傳統的結構光柵是通過在玻璃板上蝕刻的雙線陣產生摩爾效應,形成黑白間隔的結構光柵。不同的疊加角度形成不同間距的結構光柵。此結構的特點是通過物理架構的方式實現正弦化的光柵。其對于玻璃板上蝕刻的精度與幾何度的要求都比較高,不容易做出大面積的光柵。
可編程結構光柵是在微納米技術和物理光學研究基礎上設計出來的一種新的光柵技術,其特點是光柵的主要結構如強度,波長等都可以通過軟件編程控制和改變,真正的實現了數字化的控制。因為其正弦光柵是通過軟件編程實現的,所以理論上可以得到比較完美的正弦波光柵,并通過DLP(Digital Light Processing)技術,得到無損的數字化光柵圖像。重要部分是數字顯微鏡器件,并且由于是以鏡片為基礎,提高了光通過率,所以它對于光信號的處理能力以及結構光的強度有著明顯的提高,為高速,清晰,精確的工業測試需求提供了基礎。 應用于結構光3DSPI、3DAOI檢測的結構光投影模塊主要采用DLP或LCoS。汕尾半導體SPI檢測設備
主要區別是:SPI是對于焊錫印刷的質量檢查及對印刷工藝的檢驗和掌控,而AOI是對器件貼裝展開檢測和對焊點展開檢測。
SPI(solderpasteinspection,又名錫膏檢測)是對于焊錫印刷的質量檢查及對印刷工藝的檢驗和掌控。它的基本的功能:及時發現印刷品質的缺限。SPI可以直觀的告訴他使用者,哪些焊膏的印刷是好的,哪些是不當的,并且缺限種類提醒。通過對一系列的焊點檢測,找到品質變化的趨勢。SPI就是通過對一系列的焊膏檢測,找到品質趨勢,在品質未超出范圍之前就找到導致這種趨勢的潛在因素,例如印刷機的調控參數,人為因素,焊膏變化因素等。然后及時的調整,掌控趨勢的之后蔓延到。
AOI(automaticorganicinspection,又名自動光學檢查)是在SMT生產過程中會有各種各樣的貼裝和焊不當,如缺件,墓碑,位移,極反,空焊,短路,錯件等不當,現在的電子元件越來越小,靠人工目檢,速度慢,效率低,AOI檢查貼裝和焊不當,運用的是影像對比,在有所不同的燈光太陽光下,不當會呈現出有所不同的畫面,通過好的畫面與不好的畫面對比,即可找到不當點,從而展開修理,速度快,效率高。 揭陽銷售SPI檢測設備維保SPI錫膏檢測機主要應用于錫膏檢查。
使用在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機)的重要意義:
再次,很多因素影響印刷工藝品質,例如:溫度、攪拌、壓力、速度、網板清洗時間等;并且單一的因素與印刷不良之間沒有明確的因果關系。所以必須使用在線型3D錫膏檢測機,實時監控印刷工藝,及時準確地調整印刷機狀態。專業全自動在線型3D錫膏檢測機(3D-SPI)運用了高精度3D條紋調制測量技術、或者是3D激光測量技術,可以實現高度方向 上1um的測試精度。
在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機)在傳統SPI的2D檢測的基礎上,加入了對錫膏的高度、拉尖、體積的檢測, 可以在SMT產線Cycle-time時間內,快速且精確的檢測錫膏印刷質量。作為精密檢測設備,在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機)不但可以檢測出錫膏印刷過程中的各種不良,更可以作為質量控制工 具,真實記錄錫膏印刷環節工程中錫膏質量的微小變化。用SPI錫膏檢測機確認錫膏印刷狀態,并把收集到的狀態信息反饋給錫膏印刷機,幫助工程師調節錫膏印刷參數,實現提高錫膏印刷質量、降低SMT工藝不良率的目的。
一、SPI的分類:
從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類,線激光掃描式與面結構光柵PMP技術。
1)激光掃描式的SPI通過三角量測的原理計算出錫膏的高度。此技術因為原理比較簡單,技術比較成熟,但是因為其本身的技術局限性如激光的掃描寬度偏長,單次取樣,雜訊干擾等,所以比較多的運用在對精度與重復性要求不高的錫厚測試儀,桌上型SPI等。
2)結構光柵型SPIPMP,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內相移條紋的時序信息,來完成物體三維信息的重建。由于其具有全場性、速度快、高精度、自動化程度高等特點,這種技術已在工業檢測、機器視覺、逆向工程等領域獲得廣泛應用。目前大部分的在線SPI設備都已經升級到此種技術。
但是它采用的離散相移技術要求有精確的正弦結構光柵與精確的相移,在實際系統中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,相移誤差與隨機誤差,它將導致計算位相和重建面形的誤差。雖然已經出現了不少算法能降低線性相移誤差,但要解決相移過程中的隨機相移誤差問題,還存在一定的困難。 PCBA工藝常見檢測設備ATE檢測。
SPI為什么會逐漸取代人工目檢?
現在的人工越來越貴,并且人員管理也越來越難,人工目檢還會出現漏檢或錯檢,因此在線SPI逐漸取代人工目檢,達到節約成本、提高生產效率、降低誤判率、提高直通率等等,在現代的EMS加工廠中,大量的SPI逐漸取代人工目檢,效率也更快。
SPI檢測設備的優點
1、解決了微型封裝器件的結構性檢查問題,保證生產質量;
2、提高了后端測試的直通率,降低維修成本;
3、隨著技術的發展,SPI測試程序快捷簡便,降低了生產所需的大量測試成本;
SPI檢測設備的缺點
1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,比較容易出現誤判,
2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點,比較容易出現漏檢人工目檢+SPI自動檢測結合是目前的主流方式,如果放置了SPI自動檢測儀,人工目檢人員崗可以設置較少人員隨著電子精密化趨勢發展,越來越多的使用了屏蔽罩,因此有實力的加工廠還會在多功能機前加一個爐前AOI,用來專門檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質。 SMT表面組裝技術是目前電子組裝行業里流行的一種技術和工藝。揭陽銷售SPI檢測設備維保
使用在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機)的重要意義。汕尾半導體SPI檢測設備
莫爾條紋技術特點:
1874年,科學家瑞利將莫爾條紋圖案作為一種測試手段,根據條紋形態和評價光柵尺各線紋間的間距的均勻性,從而開創了莫爾測試技術。隨著光刻技術和光電子技術水平的提高,莫爾技術獲得極快的發展,在位移測試,數字控制,伺服跟蹤,運動控制等方面有了較廣的應用。目前該技術應用在SMT的錫膏精確測量中,有著很好的優勢。莫爾條紋(即光柵)有兩個非常重要的特性:
1).判向性:當指示光柵對于固定不動主光柵左右移動時,莫爾條紋將沿著近于柵向的方向上移動,可以準確判定光柵移動的方向。
2).位移放大作用:當指示光柵沿著與光柵刻度垂直方向移動一個光柵距D時,莫爾條紋移動一個條紋間距B,當兩個等間距光柵之間的夾角θ較小時,指示光柵移動一個光距D,莫爾條紋就移動KD的距離。這樣就可以把肉眼無法的柵距位移變成了清晰可見的條紋位移,實驗了高靈敏的位移測量。這兩點技術應用在SPI中,就體現了莫爾條紋技術測量的穩定性和精細性。 汕尾半導體SPI檢測設備
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3D結構光(PMP)錫膏檢測設備(SPI)及其DLP投影光機和相機一、SPI的分類:從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類,線激光掃描式與面結構光柵PMP技術。1)激光掃描式的SPI通過三角量測的原理計算出錫膏的高度。此技術因為原理比較簡單,技術比較成熟,但是因為其本身的技術局限性如激光的掃描寬度偏長,單次取樣,雜訊干擾等,所以比較多的運用在對精度與重復性要求不高的錫厚測試儀,桌上型SPI等。2)結構光柵型SPIPMP,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內相移條紋的時序信...