晶圓缺陷檢測設備的原理是什么？

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岱美儀器技術服務2023-05-29

晶圓缺陷檢測設備主要采用光學或激光技術進行檢測。通過對晶圓表面進行掃描或照射，利用反射或散射的光線進行檢測，從而檢測出晶圓表面的各種缺陷。如有采購晶圓缺陷檢測設備需求，請聯系我們，了解我們如何開始與您之間的合作，實現您的企業或者組織機構長期發展的目標！

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簡介：岱美儀器，專注于半導體行業40多年，可提供歐美先進設備，擁有雄厚的技術積累，以及專業的技術服務團隊。

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