實時測量：可以實現實時監測和數據采集，適合動態測量。廣泛應用：廣泛應用于材料科學、機械工程、光學測量、精密制造等領域。工作原理：雙頻激光干涉儀的基本原理是利用激光的相干性和干涉現象。當兩束不同頻率的激光光束經過分束器分開后，經過被測物體的反射或透射后再合并，形成干涉條紋。通過分析干涉條紋的變化，可以得到被測物體的位移信息。結論：雙頻激光干涉儀是一種高精度、高靈敏度的測量工具，適用于各種科學研究和工業應用。隨著激光技術和數據處理技術的發展，雙頻激光干涉儀的應用范圍和測量精度將不斷提高。和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。常熟新款雙頻激光干涉儀產品介紹

若干涉條紋發生移動，一定是場點對應的光程差發生了變化，引起光程差變化的原因，可能是光線長度L發生變化，或是光路中某段介質的折射率n發生了變化，或是薄膜的厚度e發生了變化。S為點光源，M1（上邊）、M2（右邊）為平面全反射鏡，其中M1是定鏡；M2為動鏡，它和精密螺絲相連，轉動鼓輪可以使其向前后方向移動，最小讀數為10mm，可估計到10mm,。M1和M2后各有3個小螺絲可調節其方位。G1（左）為分光鏡，其右表面鍍有半透半反膜，使入射光分成強度相等的兩束（反射光和透射光）。高新區通用雙頻激光干涉儀產品介紹干涉是指兩束或多束波在空間中相遇時相互疊加，形成新的波形的現象。

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設計，通過對比被測平面與標準參照鏡的干涉條紋變化，實現光學元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標準參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑：Φ60mm（典型型號） [3-4]對準方式：兩點對準系統 [3-4]結構特性：小型化設計、防塵性能優異 [3-4]精度范圍：根據型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學制造：檢測平面鏡、棱鏡等光學元件表面面型2.質量檢測：評估光學材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗：實驗室環境下進行精密光學計量分析

按干涉光來源區分：分為波前分解干涉儀和幅度分解干涉儀。波前分解干涉儀利用波前上不同位置的子波源形成干涉，如楊氏雙縫干涉；而幅度分解干涉儀則通過界面部分反射等方式將一束入射光分為兩束或多束形成干涉，如斐索干涉儀、邁克爾遜干涉儀和法布里-珀**涉儀等。四、應用干涉儀在多個領域都有廣泛應用，包括但不限于：光學測量：用于測量光波的波長、頻率和相位差。材料科學：用于分析材料的折射率、厚度和表面形貌。生物醫學：用于顯微鏡成像、生物傳感和醫學診斷。天文學：用于測量星體的直徑等。雙頻激光干涉儀的基本原理是利用激光的相干性和干涉現象。

8、激光干涉儀的光源——激光，具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。9、激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來使用。1、儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。2、在移動儀器時，為防止導軌變形，應托住底座再進行移動。3、儀器的光學零件在不用時，應在清潔干燥的器皿中進行存放，以防止發霉。4、盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等，如必須擦拭則應當小心擦拭，利用科學的方法進行清潔。光束分割：通過分束器將激光束分成兩部分，通常稱為參考光束和測量光束。常熟新款雙頻激光干涉儀產品介紹

實時測量：可以實現實時監測和數據采集，適合動態測量。常熟新款雙頻激光干涉儀產品介紹

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩頻氦氖激光為光源，構成一個具有干涉作用的測量系統。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱：laser interferometer（激光干涉儀）常熟新款雙頻激光干涉儀產品介紹

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