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企業(yè)商機(jī)
SPI檢測設(shè)備基本參數(shù)
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SPI檢測設(shè)備企業(yè)商機(jī)

SMT表面組裝技術(shù)是目前電子組裝行業(yè)里流行的一種技術(shù)和工藝,促進(jìn)了電子產(chǎn)品的小型化、多功能化,為大批量生產(chǎn)、低缺陷率生產(chǎn)提供了條件。

SMT錫膏的印刷是SMT制程中首道工序也是SMT生產(chǎn)工藝的重要環(huán)節(jié),錫膏印刷質(zhì)量直接影響焊接質(zhì)量,特別在5G智能手機(jī),汽車電子等產(chǎn)品SMT錫膏印刷更為重要;“60%以上的工藝不良來源于錫膏的印刷環(huán)節(jié)”這句話在密間距的電子產(chǎn)品中就能明顯體現(xiàn)出它的含義。

在現(xiàn)在一切數(shù)字化,智能化,自動化的浪潮下,智能機(jī)器人,汽車電子智能駕駛,AIOT,醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的小批量訂單出現(xiàn)了爆發(fā)式增長,對傳統(tǒng)的供應(yīng)鏈管理造成了很大的挑戰(zhàn),電子EMS制造產(chǎn)業(yè)自動化已成為趨勢,SMT行業(yè)也需要與時俱進(jìn)。 SPI錫膏檢查機(jī)可以檢查出那些錫膏印刷不良?汕尾SPI檢測設(shè)備維保

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應(yīng)用于3DSPI / AOI領(lǐng)域的DLP結(jié)構(gòu)光投影模塊

編碼結(jié)構(gòu)光光源蓄勢待發(fā)在2D視覺時代,光源主要起到以下作用:

1、照亮目標(biāo),提高亮度;

2、形成有利于圖像處理的成像效果,降低系統(tǒng)的復(fù)雜性和對圖像處理算法的要求;

3、克服環(huán)境光干擾,保證圖像穩(wěn)定性,提高系統(tǒng)的精度、效率;

通過恰當(dāng)?shù)墓庠凑彰髟O(shè)計,可以使圖像中的目標(biāo)信息與背景信息得到比較好分離,這樣不僅極大降低圖像處理的算法難度,同時提高系統(tǒng)的精度和可靠性

      隨著3D視覺的興起,光源不僅用于照明,更重要的是用來產(chǎn)生編碼結(jié)構(gòu)光,例如格雷碼、相移條紋、散斑等。DLP技術(shù)即因其高速、高分辨率、高精度、成熟穩(wěn)定、靈活性高等特性,在整個商用投影領(lǐng)域占據(jù)優(yōu)先地位。隨著市場需求的擴(kuò)大,也被大量用于工業(yè)3D視覺領(lǐng)域,他的作用主要是投影結(jié)構(gòu)光條紋。

      主流3D-SPI產(chǎn)品的檢測原理有相位輪廓測量術(shù)(PhaseMeasuring Profilometry,PMP)和激光三角輪廓測量術(shù)。 汕尾SPI檢測設(shè)備維保SPI驗證目的有哪些呢?

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兩種技術(shù)類別的3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))性能比較:

      目前,主流的3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))設(shè)備主要使用兩類技術(shù):基于結(jié)構(gòu)光相位調(diào)制輪廓測量技術(shù)(PMP) 與基于激光測量技術(shù)(Laser)。

      相位調(diào)制輪廓測量技術(shù)(簡稱PMP),是一種基于結(jié)構(gòu)光柵正弦運(yùn)動投影,離散相移獲取多幅被照射物光場圖像,再根據(jù)多步相移法計算出相位分布,利用三角測量等方法得到高精度的物體外形輪廓和體積測量結(jié)果。

      PMP-3D-SPI可使用400萬像素或者的高速工業(yè)相機(jī),實現(xiàn)大FOV范圍內(nèi)的錫膏三維測量以及錫膏高度方向上0.36um的解析度,在保證高速測量的同時,大幅度的提高測量精度。此外,PMP-3D-SPI可在視覺部分安裝多個投影頭,有效克服了錫膏3D測量的陰影效應(yīng)。激光測量技術(shù),采用傳統(tǒng)的激光光源投影出線狀光源,使相PSD或工業(yè)相機(jī)獲取圖像。激光3D-SPI使用飛行拍攝模式,在激光投影勻速移動的過程中一次性獲取錫膏的3D與2D信息。激光3D-SPI具有很快的檢測速度,但是不能在保證高精度的同時實現(xiàn)高速;激光光源響應(yīng)好,不易受外界光照影響,此外,因為激光技術(shù)為傳統(tǒng)的模擬技術(shù),激光3D-SPI的高分辨率為1um或2um。

      在目前的SMT設(shè)備市場中,使用激光測量類的廠商較多,更為先進(jìn)的PMP-3D測量只有少數(shù)高級SPI在使用

8種常見SMT產(chǎn)線檢測技術(shù)(2)

5.AOI自動光學(xué)檢查

      AOI自動光學(xué)檢測,利用光學(xué)和數(shù)字成像技術(shù),采用計算機(jī)和軟件技術(shù)分析圖像而進(jìn)行自動檢測的一種新型技術(shù)。AOI設(shè)備一般可分為在線式和離線式兩大類。

      AOI通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷:缺件、錯件、壞件、錫球、偏移、側(cè)立、立碑、反貼、極反、橋連、虛焊、無焊錫、 少焊錫、多焊錫、組件浮起、IC引腳浮起、IC引腳彎曲,并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來,供維修人員修整。

6.X射線檢測(簡稱X-ray或AXI)

      X-Ray檢測是利用X射線可穿透物質(zhì)并在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)缺陷,主要檢測焊點內(nèi)部缺陷,如BGA、CSP和FC中Chip的焊點檢測。

      X射線檢測是利用X射線具備很強(qiáng)的穿透性,能穿透物體表面的性能,看透被檢焊點內(nèi)部,從而達(dá)到檢測和分析電子組件各種常見的焊點的焊接品質(zhì)。

      X-Ray檢測能充分反映出焊點的焊接質(zhì)量,包括開路、短路、孔、洞、內(nèi)部氣泡以及錫量不足,并能做到定量分析。X-ray檢測較大特點是能對BGA封裝器件下面的焊點缺陷,如橋接、開路、焊球丟失、移位、釬料不足、空洞、焊球和焊點邊緣模糊等內(nèi)部進(jìn)行檢測。 SMT整線設(shè)備中AOI的作用隨著PCB產(chǎn)品向著超薄型、小組件、高密度、細(xì)間距方向快速發(fā)展。

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2.2解決相移誤差的新技術(shù)

      PMP技術(shù)中另一個主要的基礎(chǔ)條件就是對于相移誤差的控制。相移法通過對投影光柵相位場進(jìn)行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結(jié)果。傳統(tǒng)的方式都依靠機(jī)械移動來實現(xiàn)相移。為達(dá)到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達(dá),如通過陶瓷壓電馬達(dá)(PZT),線性馬達(dá)加光柵尺等方式。并通過大量的算法來減少相移的誤差。

      可編程結(jié)構(gòu)光柵因為其正弦光柵是通過軟件編程實現(xiàn)的,所以其在相移時也是通過軟件來實現(xiàn),通過此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”,提高了量測精度。并且此技術(shù)不需要機(jī)械部件,減少了設(shè)備的故障幾率,降低機(jī)械成本與維修成本。 SPI的作用和檢測原理是什么?汕尾SPI檢測設(shè)備維保

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      在SPI技術(shù)發(fā)展中,科學(xué)家們發(fā)現(xiàn)莫爾條紋光技術(shù)可以獲得更加穩(wěn)定的等間距,平行條紋光,從而極大提高高精度測量中的穩(wěn)定性,韓國科漾(高永)SPI率先采用新的技術(shù)-莫爾條紋光技術(shù),經(jīng)市場的反復(fù)的驗證,莫爾條紋光在高精度測量領(lǐng)域有著獨特的技術(shù)優(yōu)勢。

      全球首先開發(fā)SPI開發(fā)商美國速博Cyberoptical已將原來的激光技術(shù)改良為莫爾條紋光(光柵)技術(shù)。早期美國速博Cyber-OpticalSPISE-300采用激光條紋光技術(shù),Cyber-Optical產(chǎn)品QX-500,已由激光改良為的白色選通照明裝置(即莫爾條紋/光柵)。 汕尾SPI檢測設(shè)備維保

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