SMT整線設備中AOI的作用隨著PCB產品向著超薄型、小組件、高密度、細間距方向快速發展。線路板上元器件組裝密度提高,PCB線寬、間距、焊盤越來越細小,已到微米級,人工目檢的方式已滿足不了,目前還有多數工廠還在采用人工目視的檢測方式,但是隨著電子產品小型化及低能耗化的市場需求越來越旺盛,電子元器件向小型化發展步伐也越來越快。此外,人容易疲勞和受情緒影響,相對于人工目檢而言,機器視覺設備具有更高的穩定性,可重復性和更高的精細度。減少員工培訓費用:訓練一個熟練的員工的速度已經遠遠落后于員工流失的速度。缺陷預警:即在前工序防止缺陷。我們在錫膏印刷、爐前、爐后位置都可以使用AOI產品及時截出壞機,通過現場人員的有效管控。減少PCBA的維修成本:通過在不同品質工位應用AOI,得到制程變化對品質影響的實時反饋資料。SPI是英文SolderPasteInspection的簡稱,行業內一般人直接稱呼為SPI。,SPI的作用和檢測原理是什么?韶關直銷SPI檢測設備保養
SPI導入帶來的收益在線型3D錫膏檢測設備(SPI)1)據統計,SPI的導入可將原先成品PCB不合格率有效降低85%以上;返修、報廢成本大幅降低90%以上,出廠產品質量顯著提高。SPI與AOI聯合使用,通過對SMT生產線實時反饋與優化,可使生產質量更趨平穩,大幅縮短新產品導入時必須經歷的不穩定試產階段,相應成本損耗更為節省。2)可大幅降低AOI關于焊錫的誤判率,從而提高直通率,有效節約人為糾錯的人力、時間成本。據統計,當前成品PCB中74%的不合格處與焊錫有直接關系,13%有間接關系。SPI通過3D檢測手段有效彌補了傳統檢測方法的不足3)部分PCB上元器件如BGA、CSP、PLCC芯片等,由于自身特性所帶來的光線遮擋,貼片回流后AOI無法對其進行檢測。而SPI通過過程控制,極大程度減少了爐后這些器件的不良情況。4)伴隨電子產品日益精密化與焊錫無鉛化的趨勢,貼片元件越來越微型,因此,焊錫膏印刷質量正變得越來越重要。SPI能有效確保良好的錫膏印刷質量,大幅減少可能存在的成品不良率。5)作為質量過程控制的手段,能在回流焊接前及時發現質量隱患,因此幾乎沒有返修成本與報廢的可能,有效節約了成本韶關直銷SPI檢測設備保養smt貼片加工AOI檢測的優點。
2.2解決相移誤差的新技術PMP技術中另一個主要的基礎條件就是對于相移誤差的控制。相移法通過對投影光柵相位場進行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結果。傳統的方式都依靠機械移動來實現相移。為達到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達,如通過陶瓷壓電馬達(PZT),線性馬達加光柵尺等方式。并通過大量的算法來減少相移的誤差。可編程結構光柵因為其正弦光柵是通過軟件編程實現的,所以其在相移時也是通過軟件來實現,通過此種技術可以使相移誤差趨向于“0”,提高了量測精度。并且此技術不需要機械部件,減少了設備的故障幾率,降低機械成本與維修成本。
AOI在SMT各工序的應用在SMT中,AOI主要應用于焊膏印刷檢測、元件檢驗、焊后組件檢測。在進行不同環節的檢測時,其側重也有所不同。1.印刷缺陷有很多種,大體上可以分為焊盤上焊膏不足、焊膏過多;大焊盤中間部分焊膏刮擦、小焊盤邊緣部分焊膏拉尖;印刷偏移、橋連及沾污等。形成這些缺陷的原因包括焊膏流變性不良、模板厚度和孔壁加工不當、印刷機參數設定不合理、精度不高、刮刀材質和硬度選擇不當、PCB加工不良等。通過AOI可以有效監控焊膏印刷質量,并對缺陷數量和種類進行分析,從而改善印刷制程。2.元件貼裝環節對設備精度要求很高,常出現的缺陷有漏貼、貼錯、偏移歪斜、極性相反等。AOI檢測可以檢查出上述缺陷,同時還可以在此檢查連接密間距和BGA元件的焊盤上的焊膏。3.在回流焊后端檢測中,AOI可以檢查元件的缺失、偏移和歪斜情況,以及所有極性方面的缺陷,還能對焊點的正確性以及焊膏不足、焊接短路和翹腳等缺陷進行檢測。檢測誤判的定義及存在原困?
SPI在SMT行業中指的是錫膏檢測設備(Solder Paste Inspection)的英文簡稱。用于錫膏印刷后檢測錫膏的高度、體積、面積、短路和偏移量。其工作原理:錫膏檢查機增加了錫膏測厚的雷射裝置,所以SPI的工作原理與AOI類似,就是要先取一片拼板目檢沒有問題后讓機器拍照當成標準樣品,后面的板子就依照首片板子的影像及資料來作為判斷根據,這樣會有很多的誤判率,所以需要不斷的修改其參數,直到誤判率降低到一定標準,因此,使用SPI時,需要有工程師維護。為什么要使用3D-SPI錫膏厚度檢測儀?韶關直銷SPI檢測設備保養
PCBA工藝常見檢測設備ATE檢測。韶關直銷SPI檢測設備保養
光電轉化攝影系統指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線,光能轉化產生電荷,轉化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號二極管吸收光線強度不同時生成的模擬電壓大小不同,依次輸出的模擬電壓值被轉化為數字灰階0-255值,灰階值反映了物體反射光的強弱,進而實現識別不同被檢測物體的目的光電轉化器可以分為CCD和CMOS兩種,因為制作工藝與設計不同,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現為數字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導體加工工藝,并設置了垂直和水平移位寄存器,電極所產生的電場推動電荷鏈接方式傳輸到模數轉換器。而CMOS采用了無機半導體加工工藝,每像素設計了額外的電子電路,每個像素都可以被定位,無需CCD中那樣的電荷移位設計,而且其對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片,因光暈和拖尾等過度曝光而產生的非自然現象的發生頻率要低得多,價格和功耗相較CCD光電轉化器也低。但其非常明顯的缺點,作為半導體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會有問題,為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區,域而且CMOS芯片表面上的光敏區域部分小于CCD芯片韶關直銷SPI檢測設備保養
3D結構光(PMP)錫膏檢測設備(SPI)及其DLP投影光機和相機一、SPI的分類:從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類,線激光掃描式與面結構光柵PMP技術。1)激光掃描式的SPI通過三角量測的原理計算出錫膏的高度。此技術因為原理比較簡單,技術比較成熟,但是因為其本身的技術局限性如激光的掃描寬度偏長,單次取樣,雜訊干擾等,所以比較多的運用在對精度與重復性要求不高的錫厚測試儀,桌上型SPI等。2)結構光柵型SPIPMP,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內相移條紋的時序信...