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企業(yè)商機(jī)
SPI檢測設(shè)備基本參數(shù)
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SPI檢測設(shè)備企業(yè)商機(jī)

兩種技術(shù)類別的3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))性能比較:目前,主流的3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))設(shè)備主要使用兩類技術(shù):基于結(jié)構(gòu)光相位調(diào)制輪廓測量技術(shù)(PMP)與基于激光測量技術(shù)(Laser)。相位調(diào)制輪廓測量技術(shù)(簡稱PMP),是一種基于結(jié)構(gòu)光柵正弦運(yùn)動投影,離散相移獲取多幅被照射物光場圖像,再根據(jù)多步相移法計(jì)算出相位分布,利用三角測量等方法得到高精度的物體外形輪廓和體積測量結(jié)果。PMP-3D-SPI可使用400萬像素或者的高速工業(yè)相機(jī),實(shí)現(xiàn)大FOV范圍內(nèi)的錫膏三維測量以及錫膏高度方向上0.36um的解析度,在保證高速測量的同時,大幅度的提高測量精度。此外,PMP-3D-SPI可在視覺部分安裝多個投影頭,有效克服了錫膏3D測量的陰影效應(yīng)。激光測量技術(shù),采用傳統(tǒng)的激光光源投影出線狀光源,使相PSD或工業(yè)相機(jī)獲取圖像。激光3D-SPI使用飛行拍攝模式,在激光投影勻速移動的過程中一次性獲取錫膏的3D與2D信息。激光3D-SPI具有很快的檢測速度,但是不能在保證高精度的同時實(shí)現(xiàn)高速;激光光源響應(yīng)好,不易受外界光照影響,此外,因?yàn)榧す饧夹g(shù)為傳統(tǒng)的模擬技術(shù),激光3D-SPI的高分辨率為1um或2um。在目前的SMT設(shè)備市場中,使用激光測量類的廠商較多,更為先進(jìn)的PMP-3D測量只有少數(shù)高級SPI在使用smt貼片加工AOI檢測的優(yōu)點(diǎn)。河源半導(dǎo)體SPI檢測設(shè)備功能

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2.2解決相移誤差的新技術(shù)PMP技術(shù)中另一個主要的基礎(chǔ)條件就是對于相移誤差的控制。相移法通過對投影光柵相位場進(jìn)行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結(jié)果。傳統(tǒng)的方式都依靠機(jī)械移動來實(shí)現(xiàn)相移。為達(dá)到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達(dá),如通過陶瓷壓電馬達(dá)(PZT),線性馬達(dá)加光柵尺等方式。并通過大量的算法來減少相移的誤差。可編程結(jié)構(gòu)光柵因?yàn)槠湔夜鈻攀峭ㄟ^軟件編程實(shí)現(xiàn)的,所以其在相移時也是通過軟件來實(shí)現(xiàn),通過此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”,提高了量測精度。并且此技術(shù)不需要機(jī)械部件,減少了設(shè)備的故障幾率,降低機(jī)械成本與維修成本。河源半導(dǎo)體SPI檢測設(shè)備功能SPI驗(yàn)證目的有哪些呢?

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SMT貼片焊接加工導(dǎo)入SMT智能首件檢測儀可以帶來以下效益:1.節(jié)省人員:由2人檢測改為1人檢測,減少人工。2.提高效率:首件檢測提速2倍以上,測試過程無需切換量程,無需人工對比測量值。3.可靠性:FAI-JDS將BOM、坐標(biāo)及圖紙進(jìn)行完美核對,實(shí)時顯示檢測情況,避免漏檢,可方便根據(jù)誤差范圍對元件值合格值自動判定,對多貼,錯料,極性和封裝進(jìn)行方便檢查;相較于傳統(tǒng)方式完全依靠人員,人工更容易出錯。4.可視性:FAI-JDS系統(tǒng)對PCB位號圖或者掃描PCB圖像,將實(shí)物放大幾十倍,清晰度高,容易識別和定位;傳統(tǒng)方式作業(yè)員需要核對BOM,元件位置圖以及非LCR背光絲印,容易視覺疲勞,導(dǎo)致容易出錯。5.可追溯性:自動生成首件檢測報(bào)告,并可還原檢測場景。6.更加準(zhǔn)確:使用高精度LCR測試儀代替萬用表。7.工藝圖紙:可同時生成SMT首件工藝圖紙,方便品管或維修人員使用。8.擴(kuò)展性:軟件支持單機(jī)版和網(wǎng)絡(luò)版,網(wǎng)絡(luò)版按用戶數(shù)量授權(quán)可以多個用戶同時使用。歡迎來電咨詢!

AOI檢測設(shè)備對SMT貼片加工的重要性AOI檢測設(shè)備的作用是:當(dāng)自動檢測時,機(jī)器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來,供SMT工藝工程師改善與及SMT維修人員修整。AOI設(shè)備包括:1、按結(jié)構(gòu)分類有:簡易型手動離線AOI設(shè)備,離線AOI設(shè)備,在線AOI設(shè)備等;2、按分辨率分類有:0402元件AOI設(shè)備,0201元件AOI設(shè)備3、按相機(jī)分類有:單相機(jī),雙相機(jī),多攝像機(jī)等AOI設(shè)備可檢測的錯誤類型:1、刷錫后貼片前:橋接-移位-無錫-錫不足2、貼片后回流焊前:移位,漏料、極性、歪斜、腳彎、錯件3、回流焊或波峰焊后:少錫/多錫、無錫短接錫球漏料-極性-移位腳彎錯件4、PCB行業(yè)裸板檢測


SPI導(dǎo)入帶來的收益有哪些呢?

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SPI錫膏檢查機(jī)的作用和檢測原理SPI是英文Solder Paste Inspection的簡稱,行業(yè)內(nèi)一般人直接稱呼為SPI,SPI的作用和檢測原理是什么?SPI錫膏檢查機(jī)的作用      一般,SMT貼片中80-90%的不良是來自于錫膏印刷,那么在錫膏印刷后設(shè)置一個SPI錫膏檢查機(jī)是不是很有必要,將錫膏印刷不良的PCB在貼片前就刷選下來,這樣就可以提高回流焊接后的PASS率。現(xiàn)在越來越多的0201小元件需要貼片焊接,因此錫膏印刷的品質(zhì)需求就越高,在錫膏印刷后檢查出來的不良比回流焊接后檢查出來的維修成本要低很多,節(jié)省成本,并且更容易返修。SPI錫膏檢查機(jī)的檢測原理      SPI的檢測原理與AOI(延伸閱讀:什么是AOI?詳解自動光學(xué)檢測設(shè)備aoi)基本類似,都是利用光學(xué)影像來檢查品質(zhì),錫膏檢查的是錫膏的平整度、厚度以及偏移量,因此需要先將一塊OK板檢測出來作為樣板,后面批量印刷的PCB板就依據(jù)OK板來進(jìn)行判斷,也許剛開始還有很多不良率,但是這是正常,因?yàn)闄C(jī)器需要不斷的學(xué)習(xí)和修改參數(shù)以及工程師維護(hù)。SMT貼片焊接加工導(dǎo)入SMT智能首件檢測儀可以帶來的效益有哪些呢?河源半導(dǎo)體SPI檢測設(shè)備設(shè)備價錢

SPI技術(shù)主流?歡迎來電咨詢。河源半導(dǎo)體SPI檢測設(shè)備功能

使用在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))的重要意義:再次,很多因素影響印刷工藝品質(zhì),例如:溫度、攪拌、壓力、速度、網(wǎng)板清洗時間等;并且單一的因素與印刷不良之間沒有明確的因果關(guān)系。所以必須使用在線型3D錫膏檢測機(jī),實(shí)時監(jiān)控印刷工藝,及時準(zhǔn)確地調(diào)整印刷機(jī)狀態(tài)。專業(yè)全自動在線型3D錫膏檢測機(jī)(3D-SPI)運(yùn)用了高精度3D條紋調(diào)制測量技術(shù)、或者是3D激光測量技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)高度方向上1um的測試精度。在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))在傳統(tǒng)SPI的2D檢測的基礎(chǔ)上,加入了對錫膏的高度、拉尖、體積的檢測,可以在SMT產(chǎn)線Cycle-time時間內(nèi),快速且精確的檢測錫膏印刷質(zhì)量。作為精密檢測設(shè)備,在線型3D-SPI(3D錫膏檢測機(jī))不但可以檢測出錫膏印刷過程中的各種不良,更可以作為質(zhì)量控制工具,真實(shí)記錄錫膏印刷環(huán)節(jié)工程中錫膏質(zhì)量的微小變化。用SPI錫膏檢測機(jī)確認(rèn)錫膏印刷狀態(tài),并把收集到的狀態(tài)信息反饋給錫膏印刷機(jī),幫助工程師調(diào)節(jié)錫膏印刷參數(shù),實(shí)現(xiàn)提高錫膏印刷質(zhì)量、降低SMT工藝不良率的目的。河源半導(dǎo)體SPI檢測設(shè)備功能

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3D結(jié)構(gòu)光(PMP)錫膏檢測設(shè)備(SPI)及其DLP投影光機(jī)和相機(jī)一、SPI的分類:從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類,線激光掃描式與面結(jié)構(gòu)光柵PMP技術(shù)。1)激光掃描式的SPI通過三角量測的原理計(jì)算出錫膏的高度。此技術(shù)因?yàn)樵肀容^簡單,技術(shù)比較成熟,但是因?yàn)槠浔旧淼募夹g(shù)局限性如激光的掃描寬度偏長,單次取樣,雜訊干擾等,所以比較多的運(yùn)用在對精度與重復(fù)性要求不高的錫厚測試儀,桌上型SPI等。2)結(jié)構(gòu)光柵型SPIPMP,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學(xué)三維面形測量技術(shù)。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內(nèi)相移條紋的時序信...

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