激光干涉儀,以激光波長為已知長度,利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀,主要是以邁克爾遜干涉儀為主,并以穩頻氦氖激光為光源,構成一個具有干涉作用的測量系統。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作,并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱:laser interferometer(激光干涉儀)即使不做細分也可達到μm量級,細分后更可達到nm量級。吳中區安裝雙頻激光干涉儀設備廠家
基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設計,通過對比被測平面與標準參照鏡的干涉條紋變化,實現光學元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標準參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑:Φ60mm(典型型號) [3-4]對準方式:兩點對準系統 [3-4]結構特性:小型化設計、防塵性能優異 [3-4]精度范圍:根據型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學制造:檢測平面鏡、棱鏡等光學元件表面面型2.質量檢測:評估光學材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗:實驗室環境下進行精密光學計量分析張家港直銷雙頻激光干涉儀產品介紹由于其高精度和高靈敏度,激光干涉儀在科學研究和工業應用中都具有重要的地位。
分類激光干涉儀主要分為單頻激光干涉儀和雙頻激光干涉儀兩種:單頻激光干涉儀:在20世紀60年代中期出現,**初用于檢定基準線紋尺,后用于在計量室中精密測長。它對環境要求較高,周圍大氣需處于穩定狀態,以避免空氣湍流對測量結果的影響。雙頻激光干涉儀:出現于1970年,適宜在車間中使用。它應用頻率變化來測量位移,對由光強變化引起的直流電平變化不敏感,因此抗干擾能力強。雙頻激光干涉儀常用于檢定測長機、三坐標測量機、光刻機和加工中心等的坐標精度,也可用作測長機、高精度三坐標測量機等的測量系統。三、應用
檢驗光學元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學元件的質量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡,平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡,可根據干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變,從而評估透鏡的波像差。引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的(Gertsenshtein和Pustovoit 1962) [5]。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統(Weiss 1972) [6]它通過多次反射在兩個平面鏡之間形成干涉。
邁克爾遜干涉儀(英文:Michelson interferometer)是光學干涉儀中最常見的一種,其發明者是美國物理學家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光經過分光鏡分為兩束后各自被對應的平面鏡反射回來,因為這兩束光頻率相同、振動方向相同且相位差恒定(即滿足干涉條件),所以能夠發生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調節干涉臂長度以及改變介質的折射率來實現,從而能夠形成不同的干涉圖樣。干涉條紋是等光程差的軌跡,因此,要分析某種干涉產生的圖樣,必需求出相干光的光程差位置分布的函數。常見的類型包括邁克爾遜干涉儀、法布里-佩涉儀和激光位移傳感器等。虎丘區本地雙頻激光干涉儀設備廠家
實時測量:可以實現實時監測和數據采集,適合動態測量。吳中區安裝雙頻激光干涉儀設備廠家
干涉儀是很***的一類實驗技術的總稱, 其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息, 從而獲得實驗所關心的物理量。干涉儀并不僅*局限于光干涉儀。 干涉儀在天文學 (Thompson et al, 2001) [1], 光學, 工程測量, 海洋學, 地震學, 波譜分析, 量子物理實驗, 遙感, 雷達等等精密測量領域都有廣泛應用(Hariharan, 2007) [2]。具有固定相位差的兩列準單色波的疊加將導致振幅發生變化, 從而可以通過測量較容易測量的振幅來獲取波的相位信息。兩列具有同頻率波之振動在一點處可以用如下公式描述那么這兩列波疊加以后的波的振動為吳中區安裝雙頻激光干涉儀設備廠家
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